質(zhì)控圖的檢定力與Westgard多規(guī)則是檢驗(yàn)技師考試輔導(dǎo)的部分內(nèi)容，以下是醫(yī)學(xué)教育網(wǎng)對這塊內(nèi)容的整理，希望對考生有所幫助：

　　質(zhì)控圖是質(zhì)控的一種手段和工具，因此它也有一個(gè)質(zhì)量和性能問題。從統(tǒng)計(jì)學(xué)規(guī)律來看，應(yīng)用質(zhì)控圖法時(shí)可發(fā)生兩類錯(cuò)誤：1.第一類錯(cuò)誤（α錯(cuò)誤），即假陽性或假失控的錯(cuò)誤。指的是檢測過程本來在控制狀態(tài)，但誤報(bào)為失控；2.第二類錯(cuò)誤（β錯(cuò)誤），即假陰性錯(cuò)誤，指的是檢測過程已經(jīng)失控，但質(zhì)控圖發(fā)現(xiàn)不了，仍報(bào)為在控。第二類錯(cuò)誤的反面即檢定力。檢定力的含義是在規(guī)定了第一類錯(cuò)誤發(fā)生概率的前提下（通常為≤1%），檢測過程一旦失控時(shí)（均值偏倚或精度變差時(shí)），質(zhì)控圖能檢出此失控的能力，即稱為質(zhì)控圖的檢定力。

　　第一類錯(cuò)誤的發(fā)生概率與控制界限有關(guān)。例如控制界限為x±2S，則此類錯(cuò)誤的發(fā)生概率為0.0456；控制界限如為x±3S，此類錯(cuò)誤的發(fā)生概率為0.0027.經(jīng)驗(yàn)證明應(yīng)用x±3S作為控制界限造成的總損失比較小，此即3σ方式。

　　第一類錯(cuò)誤的發(fā)生概率，主觀上可以進(jìn)行控制。第二類錯(cuò)誤發(fā)生的概率是由檢測的精密度和準(zhǔn)確度所決定的，并且與每批檢測所使用質(zhì)控品的個(gè)數(shù)有關(guān)。例如當(dāng)用3σ方式，質(zhì)控品為一個(gè)時(shí)，當(dāng)測定均值偏離靶值一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差時(shí)，測定值落在控制界限之外僅2.3%的可能；當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)差比原標(biāo)準(zhǔn)差增大一倍時(shí)（即檢測精密度變差一倍時(shí)），檢出率才13.4%.即當(dāng)上述情況發(fā)生時(shí)，仍有97.7%～86.6%的可能判斷為在控。可見僅用測定值是否落在控制界線外一個(gè)規(guī)則來判斷在控或失控，其檢定力是差的，所以還要觀察測定值的分布，如其分布不呈正態(tài)即使仍在控制界限內(nèi)也應(yīng)判斷為失控。這方面不同學(xué)者提出過相應(yīng)的規(guī)則，臨床實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用最廣泛的是Westgard多規(guī)則，主要有12s、13s、22s、R4S、41S、10x等規(guī)則。其目的是為了彌補(bǔ)應(yīng)用單規(guī)則造成質(zhì)控圖檢定力差的問題。

　　上面已提到檢測過程發(fā)生的誤差，主要有以下幾種情況

　　測定的均值偏離了靶值或原先設(shè)定值，通常稱作系統(tǒng)誤差；

　　測定的精密度變差?，F(xiàn)在許多文獻(xiàn)稱之為隨機(jī)誤差。注意這里的隨機(jī)誤差應(yīng)與正常

　　因素引起的誤差相區(qū)別（文獻(xiàn)上亦常稱為偶然誤差）。

　　一般認(rèn)為13s、R4S等反映隨機(jī)誤差，而22S、41S、10x反映系統(tǒng)誤差。但必須注意這種區(qū)分是相對的，因?yàn)檫@兩種誤差都可能造成違反某一規(guī)則，且實(shí)際工作中這兩種誤差又常常同時(shí)存在，尤其是半自動(dòng)儀器及手工操作時(shí)。

　　還必須注意的是，由于臨床標(biāo)本測定值各不相同，不是一個(gè)值，而是一個(gè)范圍內(nèi)的值，上述均值及精度改變可能僅發(fā)生在這一范圍的某個(gè)區(qū)間（例如高值、正常值或低值），或者不同測定值發(fā)生的變化是不同的，如用一個(gè)水平的質(zhì)控品，就發(fā)現(xiàn)不了這現(xiàn)象，而用高、中、低值質(zhì)控品，就可以發(fā)現(xiàn)，當(dāng)然成本增大了，許多作者建議用兩個(gè)水平的質(zhì)控品是有道理的。